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LS152真空鍍膜在線測(cè)厚儀

詳細(xì)內(nèi)容

一、LS152真空鍍膜在線測(cè)厚儀測(cè)試原理

材料的透過(guò)率(光密度)和材料的鍍層厚度成一定的比例關(guān)系。這樣通過(guò)監(jiān)控材料的光學(xué)透過(guò)率(光密度)來(lái)達(dá)到監(jiān)控材料的均勻性，鍍層厚度的目的。只要是光能透過(guò)的材料，都可以通過(guò)監(jiān)控透光率來(lái)監(jiān)控產(chǎn)品的品質(zhì)。如卷繞真空鍍膜，玻璃鍍膜，玻璃生產(chǎn)線等等。

LS152真空鍍膜在線測(cè)厚儀

用戶可以自由選擇測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量，下圖為9組測(cè)試點(diǎn)的在線測(cè)厚儀外觀圖。設(shè)備的實(shí)際長(zhǎng)度以定制的測(cè)試點(diǎn)數(shù)量為準(zhǔn)。

二、LS152非接觸式在線測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)組成?

設(shè)備分為三部分：探測(cè)系統(tǒng)、人機(jī)交互設(shè)備、電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)；

探測(cè)系統(tǒng):主要包括測(cè)試點(diǎn)（光源探頭+接收探頭），控制器和鋁支架；

人機(jī)界面：7寸LCD人機(jī)交互界面，顯示各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的透過(guò)率和光密度數(shù)據(jù)；

電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)（選配）：數(shù)據(jù)記錄，分析，報(bào)表等功能。

此儀器提供雙路的RS485通訊接口，標(biāo)準(zhǔn)的MODBUS通訊協(xié)議，方便和PLC，單片機(jī)，人機(jī)界面，組態(tài)王，電腦等通訊。鍍膜機(jī)可以直接讀取此設(shè)備的光密度數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)控制自動(dòng)化（閉環(huán)控制）。

三、LS152真空鍍膜在線測(cè)厚儀圖片

測(cè)控主機(jī)尺寸及安裝方式：

控制器和測(cè)試探頭內(nèi)嵌于測(cè)控主機(jī)內(nèi)，安裝時(shí)只需要固定測(cè)控主機(jī)即可。每臺(tái)設(shè)備均配有安裝支架，安裝支架根據(jù)客戶的實(shí)際安裝需求進(jìn)行定制。測(cè)控主機(jī)安裝示意圖如下：

LS152真空鍍膜在線測(cè)厚儀可特殊定制的最小尺寸圖如下：

四、LS152在線涂層測(cè)厚儀參數(shù)

測(cè)試波長(zhǎng)	850nm紅外線,530nm綠光可選
測(cè)量光斑	5mm圓形
透過(guò)率測(cè)量精度	優(yōu)于±1%（無(wú)色均勻透光物質(zhì)）
透過(guò)率分辨率	0.005%
光密度測(cè)量范圍	0.00 OD - 5.00 OD
光密度分辨率	0.01 OD for 0.00-3.00 OD0.05 OD for 3.00-5.00 OD
最大測(cè)量點(diǎn)數(shù)	45點(diǎn)
相鄰探頭之間距離	最小35mm
光源探頭和接收探頭之間距離	20mm
工作溫度	-10℃ ～ 60℃
存儲(chǔ)溫度	-20℃ ～ 70℃
相對(duì)濕度	小于85％，不結(jié)露
數(shù)據(jù)刷新周期	普通模式300ms/快速模式100ms
通訊接口	雙路RS485
通訊協(xié)議	支持標(biāo)準(zhǔn)MODBUS協(xié)議
儀器尺寸	長(zhǎng)(根據(jù)客戶要求定制)×寬(80mm)×高(180mm)
需真空法蘭電極芯數(shù)	6根(不配電腦監(jiān)控)9根(配電腦監(jiān)控)
電源	220V AC/50Hz